超音波掃描顯微鏡IS-220
便攜式無損檢測和評估
- 電子半導體零件中的缺陷
- 材料間接合面不良所導致的分層
- 材料內部缺陷
高速超音波全波形擷取
掃描中收集超音波全波形，用收集的波形，再現Ascan和Bscan的結果，也可以重新計算其它深度上的Cscan結果進行再次評估
高速・高解析度掃描系統
- 0.1μm的最小行程距離
- 高頻支援高達500Mhz（可選）
- 安裝了高速A/D轉換板
- 有效移動範圍200x150(mm)
- 可雙探頭雙頻率同時高速收集數據
方便實用・更加人性化
- 節省空間可放在桌面上使用
尺寸：570Wx450Dx490H(mm)
（掃描器機身）
重量35Kg - 可使用反射法與穿透法探傷
- 由於體積小重量輕,可由兩人搬運
- 水槽可取出,方便換水
- OS系統：Windows10
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探傷模式 |
脈衝波反射法與穿透法 |
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有效移動區域 |
200×150(mm) |
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各軸最小行程距離 |
0.1μm |
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探傷頻率 |
高達500MHz(可選) |
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顯示模式 |
超音波波形(A),橫斷面影像(RF · B),平面圖像(C)(ABS, POS, NEG, TOF顯示), FFT, 3D等 |
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資料收集方法 |
全數位化 |
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掃描功能 |
切片掃描，陳列掃描，順序掃描 |
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資料儲存 |
硬碟, USB記憶體, DVD/RW多驅動器 |
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選項 |
離線分析軟體,穿透法夾具 |
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電源 |
AC220/5A 50/60Hz, AC100V可 |
