在現代工業中，關於材料的熱性能、特別是熱物理性能的相關知識變得日益重要。在這裡我們可以舉出一些典型領域，例如應用於高性能縮微電子器件的散熱材料，作為持續能源的熱電材料，節能領域的絕熱材料，渦輪葉片中所使用的熱障塗層（TBC），以及核工廠的安全操作，等等。

在各種熱物性參數之中，導熱係數顯得尤其重要。可以使用雷射閃射法（LFA）對材料的熱擴散係數/熱傳導係數進行測定。這一方法經過許多年的發展已廣為人知，可以提供可靠而精確的數據結果。樣品的典型厚度在50um 至10mm 之間。

NETZSCH 是一家世界領先的儀器製造廠商，提供一系列的熱物性測試儀器，特別是雷射閃射法熱傳導儀。這些LFA 系統在陶瓷，金屬，聚合物，核研究等領域得到了廣泛應用。

熱反射法-測試厚度為奈米級的薄膜材料的熱擴散係數

隨著電子設備設計的顯著進步，以及隨之而來的對有效的熱管理的需求，在奈米級厚度範圍內進行精確的熱擴散係數/導熱係數測量已經變得越來越重要。

日本國家先進工業科學與技術研究所（AIST），在上世紀90 年代初即已響應工業需求，開始研發“脈衝光加熱熱反射法”。於2008 年成立了PicoTherm 公司，同時推出了奈秒級的熱反射儀器“NanoTR”與皮秒級的熱反射儀器“PicoTR”，這兩款儀器可對薄膜的熱擴散係數進行絕對法的測量，薄膜厚度從數十微米低至奈米級範圍。

2014 年，NETZSCH 日本分公司成為了PicoTherm 公司的獨家代理。與我們現有的LFA 儀器相結合，NETZSCH 現在可以提供從奈米級薄膜、到毫米級塊體材料的全套的測試方案。

為什麼需要測試薄膜？薄膜的熱性能與塊體材料的熱性能不同

奈米級薄膜的厚度通常小於同類塊體材料典型的晶粒粒徑。由此，其熱物理性能與塊體材料將有著顯著的不同。

不同儀器適用的熱擴散時間範圍