脈衝雷射熱反射法薄膜熱傳導儀 PicoTR

PicoTR 原理

對於皮秒級熱反射法薄膜熱傳導儀PicoTR，照射到樣品的加熱面上的是脈衝寬度僅為0.5ps 的雷射脈衝，重複週期為50ns。使用探測雷射光，記錄檢測面相應的對應溫度。

PicoTR 允許用戶在RF 與FF 兩種模式之間進行自由切換。

PicoTR 符合JIS R 1689，JIS R 1690 標準。

國家標準的可追溯性

在樣品不透明、基體透明的情況下，使用NanoTR 與PicoTR，可對熱擴散係數進行絕對法測量。對於所有的其他情況，例如基體不透明、薄膜為透明，日本國家先進工業科學與技術研究所（AIST）提供了相應的參比材料，其材質為Mo（CRM 5808-a，針對PicoTR）與TiN（ RM 1301-a，針對NanoTR）。這確保了對國家標準的可追溯性。儀器設計遵從日本工業標準（JIS）：

• JIS R 1689：通過脈衝雷射熱反射方法測量精細陶瓷薄膜的熱擴散係數；
• JIS R 1690：陶瓷薄膜和金屬薄膜界面熱阻的測量方法。