超音波掃描顯微鏡IS-201
IS‑201 是一款結合高解析度、高速掃描、桌上型小體積，以及先進軟體分析與完善售後服務的全方位超音波檢測儀，非常適合半導體、電子元件、複合材料及金屬結構的中高量實驗室使用。
若您在尋求更高頻率支援、更大掃描範圍，或需要雙探頭同步檢測功能， 我們建議您參考進階型號 IS‑350
了解 IS-350 詳細資訊
延續 IS‑201 穩定可靠的架構，進一步升級高速全波形擷取效能，搭載可選配之 500 MHz 高頻探頭與雙頻同時掃描能力，特別適用於對解析度與檢測深度有更高要求的材料科學與半導體應用
無損檢測和評估
- 電子半導體零件中的缺陷
- 材料間接合面不良所導致的分層
- 材料內部缺陷
高速・高解析度掃描系統
- 0.1μm的最小行程距離
- 高頻支援高達500Mhz（可選）
- 安裝了高速A/D轉換板
- 有效移動範圍200x150(mm)
- 可雙探頭雙頻率同時高速收集數據
方便實用・更加人性化
- 節省空間可放在桌面上使用
尺寸：510Wx400Dx468H(mm)
（主要機身）
重量35Kg - 可使用反射法與穿透法探傷
- 由於體積小重量輕,可由兩人搬運
- 水槽可取出,方便換水
- OS系統：Windows10
軟體與分析生態
- Insight Scan：多語系數位超音波 C‑Scan 操作軟體，可彈性設定功能與版面界面
- Insight Analysis & Insight View：內建分析工具，可進行 A/B/C 成像重繪、剝離面積率、氣孔數量與位置座標等綜合分析
售後與支援
- Insight 提供導入後的全面支援，包括樣品測試、探頭選擇、維護訓練與後續服務
| 項目 | 規格內容 |
|---|---|
| 掃描範圍（X×Y） | 200 × 150 mm |
| 橫軸解析度 | 最小移動量：0.1 µm（XYZ 三軸） |
| Z 軸行程 | 50 mm，解析度同為 0.1 µm |
| 軸驅動系統 | X 軸：低噪聲線性伺服馬達；Y/Z：步進馬達 |
| 頻率範圍 | 1 MHz 至 500 MHz |
| 掃描速度 | 可達約 50 mm/s（或更高） |
| 主機尺寸（W×D×H） | 約 495 × 390 × 450 mm 或 570 × 450 × 490 mm（視報導略有差異） |
| 重量 | 約 31–35 kg（含控制系統） |
可對電子零件（如晶圓剝離、CSP、flip‑chip 缺陷）、陶瓷電容、多層功率半導體、CFRP/GFRP 複合材料進行內部無損檢測，亦適用於金屬材質裂紋、氣孔與焊接品質評估等
