DIL 502 Expedis® Supreme 熱膨脹儀


系列中的頂級旗艦型號,專為極端條件與尖端科研應用打造

主要特色

  • 業界領先的 超高解析度位移量測(至 0.1 nm)

  • 可搭配石墨高溫爐,支援超高溫測試

  • 極佳的長行程測量能力,適合大變形樣品

  • 全面支援真空與複雜氣體控制

  • 溫度範圍:-180 °C ~ 2800 °C

  • 長度解析度:最佳可達 0.1 nm

  • 測量行程:±25 mm

  • 氣氛:高真空、惰性、特殊控制氣體

  • 尖端材料研發(高溫陶瓷、碳材料、複合材料)

  • 航太、能源與半導體材料研究

  • 極端溫度條件下的尺寸變化分析

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