DIL 502 Expedis® Classic 熱膨脹儀


高性價比的高精度熱膨脹分析儀,專為工業應用與常規材料測試設計

主要特色

  • 採用 NanoEye® 光學位移測量系統,具備奈米級解析度

  • 氣密式測量系統,確保穩定且可重現的量測結果

  • 結構穩定、操作簡便,適合日常與大量測試需求

  • 支援多種常見爐體配置,維護成本低

  • 溫度範圍:室溫(RT)~ 1600 °C

  • 長度解析度:約 2 nm

  • 測量行程:±5 mm

  • 氣氛:惰性氣體/空氣

  • 工業品質管制(QC)

  • 金屬、陶瓷、玻璃等材料的熱膨脹測試

  • 標準化與重複性量測需求

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