TE Mode 共振腔 (薄膜樣品) TE mode Cavity Resonator (thin film)

此量測方法專門用於測量薄膜

這種諧振腔也被稱為「分離式圓柱諧振腔（split cylinder resonator）」

量測時將薄片狀樣品插入兩個諧振腔之間的間隙中，此方法可支援高達 60 GHz 的頻率，因此能滿足 5G（第五代行動通訊系統）的需求

我們的 TE 模式諧振腔具有固定的樣品插入間隙，與其他產品相比可提供更佳的量測穩定性
它能夠測量各種材料，包括柔軟及脆性的樣品。