TM Mode 共振腔 (條狀樣品) TM mode Cavity Resonator (Strip-shaped)
TM Mode空洞式共振腔可測量薄片狀樣品,可以搭配AET Sample cutter ,幫助您簡易快速的製備標準大小尺寸的樣品
高Q factor 共振腔可穩定測量高分辨率的低介電損耗材料(例如PTFE和高純度陶瓷)。該方法符合JIS C2565,ASTM D2520規範。
原廠功能介紹與規格 連結如下:
PCB基板、薄膜、塑料、陶瓷等
高Q factor 共振腔可穩定測量高分辨率的低介電損耗材料(例如PTFE和高純度陶瓷)。該方法符合JIS C2565,ASTM D2520規範。
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