TM Mode空洞式共振腔 (條狀樣品適用) TM mode Cavity Resonator ( Strip-shaped sample)
TM Mode空洞式共振腔可測量薄片狀樣品，可以搭配AET Sample cutter ，幫助您簡易快速的製備標準大小尺寸的樣品。
高Q factor 共振腔可穩定測量高分辨率的低介電損耗材料（例如PTFE和高純度陶瓷)。該方法符合JIS C2565，ASTM D2520規範。
適用於測量以下樣品:
PCB基板、薄膜、塑料、陶瓷等
原廠功能介紹與規格 連結如下:
