HMS-3000
基礎、穩定、最易上手的霍爾量測系統
高精度與高度可重現的半導體電性測量
採用 Van der Pauw 技術與 6 段電流設定（1 nA～20 mA），有效降低測量誤差與電氣噪聲。
桌上型設計，操作簡單方便
緊湊小巧，搭配永久磁鐵磁場模組與低溫測量系統（77 K），可輕鬆放置於實驗室桌面。
多尺寸樣品全面兼容
支援多種尺寸樣品（約 5 × 5 mm～20 × 20 mm），可視需求選配更大尺寸樣品板。即時圖表檢測，快速掌握樣品電性
I‑V 與 I‑R 曲線圖，即時檢查歐姆接觸品質與基本電性特徵。
自動化數據分析，一次完成多項電性參數
載流子濃度、遷移率、電阻率、導電率、霍爾係數、磁阻及垂直/水平電阻比等。
有任何相關需求，請聯繫我們的專員
張岑如(Solina Zhang)
電話：0933-097768
HMS-3000 是一套完整的霍爾效應 (Hall effect) 測試系統，可用於測量半導體樣本的下列電性與載子特性：
載子濃度 (carrier concentration)、遷移率 (mobility)、電阻率 (resistivity) 以及霍爾係數 (Hall coefficient)，並判定 N 型或 P 型半導體
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主機尺寸：約 32 × 30 × 10.5 公分 (寬 × 深 × 高)，重量約 7.7 公斤
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輸入電流範圍 (DC)：1 nA ~ 20 mA。
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可測電阻率 (resistivity)：10⁻⁴ ~ 10⁷ Ω·cm
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可測載子濃度 (carrier concentration)：大約 10⁷ ~ 10²¹ /cm³
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可測遷移率 (mobility)：大約 1 ~ 10⁷ cm²/V·s
可用於各種半導體材料，例如 Si, GaAs, InP, GaN, 以及其他導電或導電氧化膜 (例如 ITO, ZnO 等)
