奈米粒徑與界達電位分析儀 Zeta-APS
獨特 Zeta-APS 結合聲衰減光譜和電動音波振福( ESA )技術，可同時對未稀釋/不透明樣品進行細微性和 Zeta 電位測量！
更妙的是與其他粒徑分析儀不同，你不必事先知道或者猜測你的樣品的形狀。
通過奈米粒徑分析儀所產生粒徑分佈（PSD），可以確定材料中顆粒的大小範圍和分佈狀態，以確保樣品的一致性和穩定性。
穩定性 膠體溶液的穩定性取決於粒子間的相互作用
- 電雙層排斥力(electric double layer)
- 凡德瓦力(London ven der Waals attractive force)
粒子間的 穩定性 可由 界達電位 來判斷 :
當電荷排斥力大於凡德瓦力時，會使膠體粒子分散，反之則凝聚。一般來說 Zeta電位大於mV，電雙層變寬，粒子間距變大，斥力大於吸引力，顆粒之間相互排斥越劇烈，粒子分散性越佳，分散體系越穩定 ; Zeta 電位小於mV，則容易聚集，等於0mV為等位點(IEP)，為膠體溶液最不穩的狀態。
這張是儀器的示意圖，左邊是訊號傳輸端，藍色部分是delay rod，主要的目的是使訊之間產生時間差，所以不會造成訊號重疊，中間是我們的樣品槽，最旁邊是反射板。
首先傳輸端會發射一道聲波，當聲波從delay rod到樣品槽的時候，一部分的聲波會射，另一部分會反射，透射的聲波會因為穿透樣品槽內顆粒，而造成聲波能波變弱，穿透過後打到反射板又會反彈，一部分的訊號會透射到delay rod，一部分的訊號會反射回樣品槽，聲波就像乒乓球一樣，來回在介面與反射板之間來回彈跳，而我們就去偵測這回傳的訊號在導入衰減公式，最後就可以得到粒徑分佈。
Zeta-APS 可測量細微性 5 奈米至 100 微米樣品的聲速、酸鹼度、傳導性和溫度。
※1 :矽晶圓(Wafer)表面的平坦性會影響積體電路的推疊和效率，透過化學機械研磨技術(Chemical Mechanical Polishing or Planarization, CMP)，能使晶圓表面均勻平坦，其中了解研磨漿料的粒徑就十分重要，研磨粒徑決定晶圓表面的平坦度和良率。
※2 :乳化劑的親水性和親油性一般是不平衡的，它們適用的場合也有所差異，如果乳化劑分子的親水基比親油基大而強，屬於親水性的乳化劑，易形成水包油(O/W)型乳濁液。相反，如果乳化劑分子的親油基團比親水基大而強，它則屬於親油性的乳化劑，易形成油包水(W/O)型乳濁液。
(親水性強的乳化劑適用於O/W型乳濁液，親油性強的乳化劑適用於W/O型乳濁液)
※3 :有機物和無機顏料，如二氧化鈦和碳黑、催化劑，和其他許多。
應用案例1：乳劑類測試樣品
樣品信息：
—50%脂肪含量奶
—全脂奶
—1%低脂+巧克力奶
—1%低脂奶
—完全脫脂奶
圖1 5種樣品的超聲衰減普圖
圖2 全脂奶粒徑分佈結果
體積平均粒徑：1.8μm，D25 為0.9μm，D75為2.5μm
面積平均粒徑：1.1μm，D25為1.46μm，D75為1.5μm
圖3 半脂奶粒徑分佈結果
體積平均粒徑：1.45μm，D25 為0.53μm，D75為2.6μm
面積平均粒徑：0.65μm，D25 為0.2μm，D75為0.68μm
說明：
1）由聲衰減譜可看出，不同的脂肪含量樣品，衰減速率不同；同時，相同脂肪含量1%的兩個樣品，其中一個加入巧克力，衰減譜也不同。
2） 全脂和半脂樣品的粒徑分佈差異較大，PSD數據顯示，半脂奶分佈很不均勻，有較多小粒徑顆粒存在，也存在很多較大粒徑的顆粒。而全脂奶中顆粒粒徑的分佈較均勻。
3）儀器具有高分辨率，半脂奶樣品PSD存在多個粒徑峰均可以測試出。
應用案例2：二氧化鈦PH值和Zeta電位關係
漿料、研磨液等樣品為一定顆粒度範圍內的混懸液，需要在使用壽命期限內保持穩定性。一旦發生聚集，會導致使用性能失效，使用壽命縮短。
樣品信息：
1. 二氧化鈦8.3%wt固含量，平均粒徑270nm. 測試樣品Zeta電位隨PH值改變而發生的變化。同時，可以測試樣品的電導率。下圖為Zeta電位-PH值關係圖，以及電導率-PH值關係圖。由如下兩個圖，可以根據使用需求，找到最佳的PH值來獲得穩定的樣品。
2. 二氧化矽10%wt固含量，平均粒徑60nm. 探究樣品穩定性和PH值關係。
針對該細顆粒樣品，可以發現P在H值大於7的區域可得到較大的Zeta電位值。同時，當PH值繼續增加到9以後，因雙電層被壓縮的緣故，又會引起Zeta電位值降低。由此結果可尋找到最佳的PH值。
說明：
1）產品的Zeta電位，對穩定性起到有至關重要的作用。一旦對樣品進行稀釋，因分散劑等影響，即會破壞樣品原始的狀態，測試得到的結果是假性的。
2）採用超聲電聲法粒度儀測試Zeta電位，原樣測試，無需稀釋，從而獲得樣品最真實的結果，對產品研發和質量控制具有重大意義。
Zeta-APS優點
