2024/12/12
Insight k.k.超音波掃描顯微鏡 快速檢驗在積層陶瓷電容 (MLCC) 返回
Insight k.k.超音波掃描顯微鏡內含的掃描方法 (TOF)
TOF（飛行時間）資料擷取方法用於MLCC檢測，可以方便地檢查是否有空洞/裂紋，並且可以透過色條設定輕鬆了解裂紋存在的深度。
這種方法是檢查MLCC的常用方法，村田製作所是日本最大的 MLCC 製造商之一，在日本、中國、菲律賓、新加坡和泰國使用了 50 多台Insight k.k.的機器，
他們也都使用 TOF 來評估他們的產品，下方圖示為實際操作的選項頁面以及如何進行顏色判斷。
✯ 如果沒有裂紋，超音波打到底部並反射，影像會是紅色（OK無異常）
✮ 如果淺層區域有裂紋，則該區域的顏色會呈現藍色
✯ 如果裂縫是中間區域，則會顯示黃色
