超音波扫描显微镜IS-220
便携式无损检测和评估
- 电子半导体零件中的缺陷
- 材料间接合面不良所导致的分层
- 材料内部缺陷
高速超音波全波形撷取
扫描中收集超音波全波形，用收集的波形，再现Ascan和Bscan的结果，也可以重新计算其它深度上的Cscan结果进行再次评估
高速・高解析度扫描系统
- 0.1μm的最小行程距离
- 高频支援高达500Mhz（可选）
- 安装了高速A/D转换板
- 有效移动范围200x150(mm)
- 可双探头双频率同时高速收集数据
方便实用・更加人性化
- 节省空间可放在桌面上使用
尺寸：570Wx450Dx490H(mm)
（扫描器机身）
重量35Kg - 可使用反射法与穿透法探伤
- 由于体积小重量轻,可由两人搬运
- 水槽可取出,方便换水
- OS系统：Windows10
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探伤模式 |
脉冲波反射法与穿透法 |
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有效移动区域 |
200×150(mm) |
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各轴最小行程距离 |
0.1μm |
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探伤频率 |
高达500MHz(可选) |
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显示模式 |
超音波波形(A),横断面影像(RF · B),平面图像(C)(ABS, POS, NEG, TOF显示), FFT, 3D等 |
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资料收集方法 |
全数位化 |
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扫描功能 |
切片扫描，陈列扫描，顺序扫描 |
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资料储存 |
硬碟, USB记忆体, DVD/RW多驱动器 |
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选项 |
离线分析软体,穿透法夹具 |
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电源 |
AC220/5A 50/60Hz, AC100V可 |
