在现代工业中，关于材料的热性能、特别是热物理性能的相关知识变得日益重要。在这里我们可以举出一些典型领域，例如应用于高性能缩微电子器件的散热材料，作为持续能源的热电材料，节能领域的绝热材料，涡轮叶片中所使用的热障涂层（TBC），以及核工厂的安全操作，等等。

在各种热物性参数之中，导热系数显得尤其重要。可以使用雷射闪射法（LFA）对材料的热扩散系数/热传导系数进行测定。这一方法经过许多年的发展已广为人知，可以提供可靠而精确的数据结果。样品的典型厚度在50um 至10mm 之间。

NETZSCH 是一家世界领先的仪器制造厂商，提供一系列的热物性测试仪器，特别是雷射闪射法热传导仪。这些LFA 系统在陶瓷，金属，聚合物，核研究等领域得到了广泛应用。

热反射法-测试厚度为奈米级的薄膜材料的热扩散系数

随着电子设备设计的显着进步，以及随之而来的对有效的热管理的需求，在奈米级厚度范围内进行精确的热扩散系数/导热系数测量已经变得越来越重要。

日本国家先进工业科学与技术研究所（AIST），在上世纪90 年代初即已响应工业需求，开始研发“脉冲光加热热反射法”。于2008 年成立了PicoTherm 公司，同时推出了奈秒级的热反射仪器“NanoTR”与皮秒级的热反射仪器“PicoTR”，这两款仪器可对薄膜的热扩散系数进行绝对法的测量，薄膜厚度从数十微米低至奈米级范围。

2014 年，NETZSCH 日本分公司成为了PicoTherm 公司的独家代理。与我们现有的LFA 仪器相结合，NETZSCH 现在可以提供从奈米级薄膜、到毫米级块体材料的全套的测试方案。

为什么需要测试薄膜？薄膜的热性能与块体材料的热性能不同

奈米级薄膜的厚度通常小于同类块体材料典型的晶粒粒径。由此，其热物理性能与块体材料将有着显着的不同。

不同仪器适用的热扩散时间范围