超音波扫描显微镜IS-201
IS‑201 是一款结合高解析度、高速扫描、桌上型小体积，以及先进软体分析与完善售后服务的全方位超音波检测仪，非常适合半导体、电子元件、复合材料及金属结构的中高量实验室使用。
若您在寻求更高频率支援、更大扫描范围，或需要双探头同步检测功能， 我们建议您参考进阶型号 IS‑350
了解 IS-350 详细资讯
延续 IS‑201 稳定可靠的架构，进一步升级高速全波形撷取效能，搭载可选配之 500 MHz 高频探头与双频同时扫描能力，特别适用于对解析度与检测深度有更高要求的材料科学与半导体应用
无损检测和评估
- 电子半导体零件中的缺陷
- 材料间接合面不良所导致的分层
- 材料内部缺陷
高速・高解析度扫描系统
- 0.1μm的最小行程距离
- 高频支援高达500Mhz（可选）
- 安装了高速A/D转换板
- 有效移动范围200x150(mm)
- 可双探头双频率同时高速收集数据
方便实用・更加人性化
- 节省空间可放在桌面上使用
尺寸：510Wx400Dx468H(mm)
（主要机身）
重量35Kg - 可使用反射法与穿透法探伤
- 由于体积小重量轻,可由两人搬运
- 水槽可取出,方便换水
- OS系统：Windows10
软体与分析生态
- Insight Scan：多语系数位超音波 C‑Scan 操作软体，可弹性设定功能与版面界面
- Insight Analysis & Insight View：内建分析工具，可进行 A/B/C 成像重绘、剥离面积率、气孔数量与位置座标等综合分析
售后与支援
- Insight 提供导入后的全面支援，包括样品测试、探头选择、维护训练与后续服务
| 项目 | 规格内容 |
|---|---|
| 扫描范围（X×Y） | 200 × 150 mm |
| 横轴解析度 | 最小移动量：0.1 µm（XYZ 三轴） |
| Z 轴行程 | 50 mm，解析度同为 0.1 µm |
| 轴驱动系统 | X 轴：低噪声线性伺服马达；Y/Z：步进马达 |
| 频率范围 | 1 MHz 至 500 MHz |
| 扫描速度 | 可达约 50 mm/s（或更高） |
| 主机尺寸（W×D×H） | 约 495 × 390 × 450 mm 或 570 × 450 × 490 mm（视报导略有差异） |
| 重量 | 约 31–35 kg（含控制系统） |
可对电子零件（如晶圆剥离、CSP、flip‑chip 缺陷）、陶瓷电容、多层功率半导体、CFRP/GFRP 复合材料进行内部无损检测，亦适用于金属材质裂纹、气孔与焊接品质评估等
