脉冲雷射热反射法薄膜热传导仪 PicoTR

PicoTR 原理

对于皮秒级热反射法薄膜热传导仪PicoTR，照射到样品的加热面上的是脉冲宽度仅为0.5ps 的雷射脉冲，重复周期为50ns。使用探测雷射光，记录检测面相应的对应温度。

PicoTR 允许用户在RF 与FF 两种模式之间进行自由切换。

PicoTR 符合JIS R 1689，JIS R 1690 标准。

国家标准的可追溯性

在样品不透明、基体透明的情况下，使用NanoTR 与PicoTR，可对热扩散系数进行绝对法测量。对于所有的其他情况，例如基体不透明、薄膜为透明，日本国家先进工业科学与技术研究所（AIST）提供了相应的参比材料，其材质为Mo（CRM 5808-a，针对PicoTR）与TiN（ RM 1301-a，针对NanoTR）。这确保了对国家标准的可追溯性。仪器设计遵从日本工业标准（JIS）：

• JIS R 1689：通过脉冲雷射热反射方法测量精细陶瓷薄膜的热扩散系数；
• JIS R 1690：陶瓷薄膜和金属薄膜界面热阻的测量方法。