TE Mode 共振腔 (薄膜样品) TE mode Cavity Resonator (thin film)

此量测方法专门用于测量薄膜

这种谐振腔也被称为「分离式圆柱谐振腔（split cylinder resonator）」

量测时将薄片状样品插入两个谐振腔之间的间隙中，此方法可支援高达 60 GHz 的频率，因此能满足 5G（第五代行动通讯系统）的需求

我们的 TE 模式谐振腔具有固定的样品插入间隙，与其他产品相比可提供更佳的量测稳定性
它能够测量各种材料，包括柔软及脆性的样品。