TM Mode空洞式共振腔 (条状样品适用) TM mode Cavity Resonator ( Strip-shaped sample)
TM Mode空洞式共振腔可测量薄片状样品，可以搭配AET Sample cutter ，帮助您简易快速的制备标准大小尺寸的样品。
高Q factor 共振腔可稳定测量高分辨率的低介电损耗材料（例如PTFE和高纯度陶瓷)。该方法符合JIS C2565，ASTM D2520规范。
适用于测量以下样品:
PCB基板、薄膜、塑料、陶瓷等
原厂功能介绍与规格 连结如下:
