HMS-3000
基础、稳定、最易上手的霍尔量测系统
高精度与高度可重现的半导体电性测量
采用 Van der Pauw 技术与 6 段电流设定（1 nA～20 mA），有效降低测量误差与电气噪声。
桌上型设计，操作简单方便
紧凑小巧，搭配永久磁铁磁场模组与低温测量系统（77 K），可轻松放置于实验室桌面。
多尺寸样品全面兼容
支援多种尺寸样品（约 5 × 5 mm～20 × 20 mm），可视需求选配更大尺寸样品板。即时图表检测，快速掌握样品电性
I‑V 与 I‑R 曲线图，即时检查欧姆接触品质与基本电性特征。
自动化数据分析，一次完成多项电性参数
载流子浓度、迁移率、电阻率、导电率、霍尔系数、磁阻及垂直/水平电阻比等。
有任何相关需求，请联系我们的专员
张岑如(Solina Zhang)
电话：0933-097768
HMS-3000 是一套完整的霍尔效应 (Hall effect) 测试系统，可用于测量半导体样本的下列电性与载子特性：
载子浓度 (carrier concentration)、迁移率 (mobility)、电阻率 (resistivity) 以及霍尔系数 (Hall coefficient)，并判定 N 型或 P 型半导体
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主机尺寸：约 32 × 30 × 10.5 公分 (宽 × 深 × 高)，重量约 7.7 公斤
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输入电流范围 (DC)：1 nA ~ 20 mA。
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可测电阻率 (resistivity)：10⁻⁴ ~ 10⁷ Ω·cm
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可测载子浓度 (carrier concentration)：大约 10⁷ ~ 10²¹ /cm³
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可测迁移率 (mobility)：大约 1 ~ 10⁷ cm²/V·s
可用于各种半导体材料，例如 Si, GaAs, InP, GaN, 以及其他导电或导电氧化膜 (例如 ITO, ZnO 等)
