Zeta-APS 奈米粒径与界达电位分析仪
独特 Zeta-APS 结合声衰减光谱和电动音波振福( ESA )技术，可同时对未稀释/不透明样品进行细微性和 Zeta 电位测量！
更妙的是与其他粒径分析仪不同，你不必事先知道或者猜测你的样品的形状。
通过奈米粒径分析仪所产生粒径分布（PSD），可以确定材料中颗粒的大小范围和分布状态，以确保样品的一致性和稳定性。
稳定性 胶体溶液的稳定性取决于粒子间的相互作用
- 电双层排斥力(electric double layer)
- 凡德瓦力(London ven der Waals attractive force)
粒子间的 稳定性 可由 界达电位 来判断 :
当电荷排斥力大于凡德瓦力时，会使胶体粒子分散，反之则凝聚。一般来说 Zeta电位大于mV，电双层变宽，粒子间距变大，斥力大于吸引力，颗粒之间相互排斥越剧烈，粒子分散性越佳，分散体系越稳定 ; Zeta 电位小于mV，则容易聚集，等于0mV为等位点(IEP)，为胶体溶液最不稳的状态。
这张是仪器的示意图，左边是讯号传输端，蓝色部分是delay rod，主要的目的是使讯之间产生时间差，所以不会造成讯号重叠，中间是我们的样品槽，最旁边是反射板。
首先传输端会发射一道声波，当声波从delay rod到样品槽的时候，一部分的声波会射，另一部分会反射，透射的声波会因为穿透样品槽内颗粒，而造成声波能波变弱，穿透过后打到反射板又会反弹，一部分的讯号会透射到delay rod，一部分的讯号会反射回样品槽，声波就像乒乓球一样，来回在介面与反射板之间来回弹跳，而我们就去侦测这回传的讯号在导入衰减公式，最后就可以得到粒径分布。
Zeta-APS 可测量细微性 5 奈米至 100 微米样品的声速、酸碱度、传导性和温度。
※1 :矽晶圆(Wafer)表面的平坦性会影响积体电路的推叠和效率，透过化学机械研磨技术(Chemical Mechanical Polishing or Planarization, CMP)，能使晶圆表面均匀平坦，其中了解研磨浆料的粒径就十分重要，研磨粒径决定晶圆表面的平坦度和良率。
※2 :乳化剂的亲水性和亲油性一般是不平衡的，它们适用的场合也有所差异，如果乳化剂分子的亲水基比亲油基大而强，属于亲水性的乳化剂，易形成水包油(O/W)型乳浊液。相反，如果乳化剂分子的亲油基团比亲水基大而强，它则属于亲油性的乳化剂，易形成油包水(W/O)型乳浊液。
(亲水性强的乳化剂适用于O/W型乳浊液，亲油性强的乳化剂适用于W/O型乳浊液)
※3 :有机物和无机颜料，如二氧化钛和碳黑、催化剂，和其他许多。
应用案例1：乳剂类测试样品
样品信息：
—50%脂肪含量奶
—全脂奶
—1%低脂+巧克力奶
—1%低脂奶
—完全脱脂奶
图1 5种样品的超声衰减普图
图2 全脂奶粒径分布结果
体积平均粒径：1.8μm，D25 为0.9μm，D75为2.5μm
面积平均粒径：1.1μm，D25为1.46μm，D75为1.5μm
图3 半脂奶粒径分布结果
体积平均粒径：1.45μm，D25 为0.53μm，D75为2.6μm
面积平均粒径：0.65μm，D25 为0.2μm，D75为0.68μm
说明：
1）由声衰减谱可看出，不同的脂肪含量样品，衰减速率不同；同时，相同脂肪含量1%的两个样品，其中一个加入巧克力，衰减谱也不同。
2） 全脂和半脂样品的粒径分布差异较大，PSD数据显示，半脂奶分布很不均匀，有较多小粒径颗粒存在，也存在很多较大粒径的颗粒。而全脂奶中颗粒粒径的分布较均匀。
3）仪器具有高分辨率，半脂奶样品PSD存在多个粒径峰均可以测试出。
应用案例2：二氧化钛PH值和Zeta电位关系
浆料、研磨液等样品为一定颗粒度范围内的混悬液，需要在使用寿命期限内保持稳定性。一旦发生聚集，会导致使用性能失效，使用寿命缩短。
样品信息：
1. 二氧化钛8.3%wt固含量，平均粒径270nm. 测试样品Zeta电位随PH值改变而发生的变化。同时，可以测试样品的电导率。下图为Zeta电位-PH值关系图，以及电导率-PH值关系图。由如下两个图，可以根据使用需求，找到最佳的PH值来获得稳定的样品。
2. 二氧化矽10%wt固含量，平均粒径60nm. 探究样品稳定性和PH值关系。
针对该细颗粒样品，可以发现P在H值大于7的区域可得到较大的Zeta电位值。同时，当PH值继续增加到9以后，因双电层被压缩的缘故，又会引起Zeta电位值降低。由此结果可寻找到最佳的PH值。
说明：
1）产品的Zeta电位，对稳定性起到有至关重要的作用。一旦对样品进行稀释，因分散剂等影响，即会破坏样品原始的状态，测试得到的结果是假性的。
2）采用超声电声法粒度仪测试Zeta电位，原样测试，无需稀释，从而获得样品最真实的结果，对产品研发和质量控制具有重大意义。
Zeta-APS优点
