2024/12/12
Insight k.k.超音波扫描显微镜 快速检验在积层陶瓷电容 (MLCC) 返回
Insight k.k.超音波扫描显微镜内含的扫描方法 (TOF)
TOF（飞行时间）资料撷取方法用于MLCC检测，可以方便地检查是否有空洞/裂纹，并且可以透过色条设定轻松了解裂纹存在的深度。
这种方法是检查MLCC的常用方法，村田制作所是日本最大的 MLCC 制造商之一，在日本、中国、菲律宾、新加坡和泰国使用了 50 多台Insight k.k.的机器，
他们也都使用 TOF 来评估他们的产品，下方图示为实际操作的选项页面以及如何进行颜色判断。
✯ 如果没有裂纹，超音波打到底部并反射，影像会是红色（OK无异常）
✮ 如果浅层区域有裂纹，则该区域的颜色会呈现蓝色
✯ 如果裂缝是中间区域，则会显示黄色
