DIL 502 Expedis® Classic 热膨胀仪


高性价比的高精度热膨胀分析仪,专为工业应用与常规材料测试设计

主要特色

  • 采用 NanoEye® 光学位移测量系统,具备奈米级解析度

  • 气密式测量系统,确保稳定且可重现的量测结果

  • 结构稳定、操作简便,适合日常与大量测试需求

  • 支援多种常见炉体配置,维护成本低

  • 温度范围:室温(RT)~ 1600 °C

  • 长度解析度:约 2 nm

  • 测量行程:±5 mm

  • 气氛:惰性气体/空气

  • 工业品质管制(QC)

  • 金属、陶瓷、玻璃等材料的热膨胀测试

  • 标准化与重复性量测需求

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